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ATE測試機


SOC晶片測試系統

IM800系列SOC晶片測試系統廣泛適用於SOC晶片的工程開發驗證及量產測試環節,可最大程度滿足晶片設計公司、集成電路生產製造企業、專業晶片封裝測試廠等客戶多種測試應用場景對測試設備的不同需求。

  • IM800D 主要性能參數
  • 機台支持1920數字通道(最高支持800Mbps;160M向量深度)
  • 支持時間測量單元,支持存儲器測試選項
  • 電源通道最大支持48A電流
  • 4象限的電源通道支持±12V, ±1A
  • 8通道AWG/DGT混合信號,支持2位/16位高精度/高速
  • 測試頭靈活且兼容IM800A/IM800B/IM800C

IM800 A

兼顧實驗室工程開發驗證及量產測試的高性價比SOC測試設備 (Max 256CH)

IM800 B

Hard Docking的中規模量產一體式SOC測試設備 (Max 512CH)

IM800 C

兼容性強、擴展靈活的標準SOC測試設備 (Max960CH)

IM800 D

高同測、高通道、高性能的SOC測試設備 (Max 1920CH)


DRAM存儲器晶片測試系統

存儲器晶片測試系統分為工程驗證系統IM8000E和量產測試系統IM8000,它們廣泛應用於LPDDR系列、DDR系列等IC驗證、篩選及量產測試,可以完成存儲晶片的參數測試、功能測試和RA分析修復。

  • 主要性能參數
  • 系統最高可配置32塊數字通道板,多達10240通道(IO/DR)
  • 最大輸出波形速度400Mbps
  • 具有多種類型存儲空間,如AFM, CFM, DFM, UBM, DBM
  • Per Pin參數測量單元
  • 靈活配置的ALPG, X, Y, Z地址位最大支持24bit, 數據位36bit*2
  • 強大靈活的RA分析能力
  • 4象限大電流PMU, 提供量程-2.0~+7.0V / ±80mA

IM8000E

實驗室工程用存儲器測試機 (Max 1600 CH以上)

IM8000

高同測、高通道數的量產用存儲器測試機 (Max 14000CH以上)


Flash存儲器晶片測試系統

存儲器晶片針對非易失性存儲IC的Flash存儲器晶片測試系統包含工程驗證系統IM5000 ES和量產測試系統IM5000,它們廣泛應用於Nor Flash, Nand Flash, E2PROM以及RRAM, MRAM, PCM等新型存儲器的IC驗證、篩選及量產測試,可以完成這些非易失性存儲晶片的參數測試、工程測試和RA分析修復。

  • 主要性能參數
  • 系統最高可配置8塊數字通道板,多達2304通道(I/O),最大輸出波形速度450Mbps
  • 最大支持1024個DUT(2 CH per DUT)晶圓級並行測試
  • 具有多種類型存儲空間,如DBM, AFM, UBM, BBM, DCM等
  • Per Pin參數測量單元
  • 靈活配置的ALPG, X, Y, Z地址位最大支持24bit, 數據位36bit
  • 靈活配置的LPG,支持Scan Pattern,實現邏輯測試
  • 支持Flash Counter和Fail Bit功能,極大的提高Flash測試效率
  • 支持Pattern Trigger功能,在Pattern中靈活實現DC Level設置和量測

IM5000 ES

實驗室工程用Flash存儲器測試系統 (Max 576 CH)

IM5000

量產用Flash存儲器測試系統 (Max 2304 CH)