型號:TOF-4R05
測量方式 |
接觸式
線性規/夾押方式 |
測量產品 |
硬式薄膜、硬式SHEET |
測量厚度 |
0.03~3 mm |
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型號:TOF-5R01
測量方式 |
接觸式
線性規 |
測量產品 |
薄膜 |
測量厚度 |
0.02~0.2 mm |
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型號:TOF-6R001
測量方式 |
接觸式
線性規 |
測量產品 |
高精度塑膠薄膜(聚醯亞胺薄膜、光學薄膜等) |
測量厚度 |
5~100 μm |
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型號:TOF-C
測量方式 |
非接觸式
電容式 |
測量產品 |
伸縮膜等較薄的薄膜 |
測量厚度 |
5~100 μm |
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型號:TOF-S
測量方式 |
非接觸式
光譜干擾式 |
測量產品 |
電子・光學用透明平滑薄膜、多層薄膜 |
測量厚度 |
1~50 μm (薄物用)
10~150 μm (厚物用) |
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型號:TOF-M
測量方式 |
觸式
線性規 |
測量產品 |
金属板 |
測量厚度 |
0.1~0.5 mm |
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